AE-381A 容量測試儀1MHz/1kHz/120Hz
- 超高速：0.3msec.[1MHz]、1msec.[1kHz]、8.34msc.[120Hz]（FAST測量中的時間）
- 通過測量值異常檢知可得知２端子測量時探測頭接觸不良的情況
- 可４端子接觸檢測
- 測量頻率：1MHz/1kHz/120Hz±0.1%(正弦波)
- 可BIN測量：C 14分類及Out of bin
- 可在串聯(lián)等效電路和并聯(lián)等效電路之間切換
- 定電壓測量（只適用部分量程）
- 可DF測量[0.0000～0.5000]、Q測量[0～10000]
- C測量：41/2位數(shù)(15000)數(shù)字顯示、內(nèi)置比較器功能可HI/GO/LO輸出
- RS-232C接口、打印機輸出（適合Centronics標(biāo)準(zhǔn)配備）（GP-IB選購）
- 脈沖式測量電流以減少探測頭接觸的耗損
- 即使在檢測中也可打印檢測值、統(tǒng)計值、日期、時間
|
|
量程 |
測量范圍 |
分辨率 |
精確度[FAST測量時為下記精確度的2倍] |
測量電壓[rms] |
||
|
1MHz |
1kHz |
120Hz |
||||
|
1.5pF |
0.0000pF～1.5000pF |
0.0001pF |
C:±1.0% of rdg±50dg以內(nèi) |
--- |
--- |
1V±5% 0.5V±5% |
|
DF:0.01 |
DF:±0.005±0.0001×(Cr/Cx)以內(nèi) |
--- |
--- |
|||
|
15pF |
0.000pF～15.000pF |
0.001pF |
C:±0.25% of rdg±25dg以內(nèi) |
C:±0.25% of rdg±25dg以內(nèi) |
--- |
1V±5% 0.5V±5% |
|
DF:0.01 |
DF:±0.002±0.0005×(Cr/Cx)以內(nèi) |
DF:±0.002±0.00025×(Cr/Cx)以內(nèi) |
--- |
|||
|
150pF |
0.00pF～150.00pF |
0.01pF |
C:±0.15% of rdg±10dg以內(nèi) |
C:±0.15% of rdg±10dg以內(nèi) |
--- |
1V±5% 0.5V±5% |
|
DF:0.01 |
DF:±0.001±0.0001×(Cr/Cx)以內(nèi) |
DF:±0.001±0.0001×(Cr/Cx)以內(nèi) |
--- |
|||
|
1.5nF |
0.0pF～1500.0pF |
0.1pF |
C:±0.15% of rdg±10dg以內(nèi) |
C:±0.15% of rdg±10dg以內(nèi) |
--- |
1V±5% 0.5V±5% |
|
DF:0.01 |
DF:±0.001±0.0001×(Cr/Cx)以內(nèi) |
DF:±0.0005±0.0001×(Cr/Cx)以內(nèi) |
--- |
|||
|
15nF |
0.000nF～15.000nF |
0.001nF |
--- |
C:±0.15% of rdg±10dg以內(nèi) |
--- |
1V±5% 0.5V±5% |
|
DF:0.01 |
--- |
DF:±0.0005±0.0001×(Cr/Cx)以內(nèi) |
--- |
|||
|
150nF |
0.00nF～150.00nF |
0.01nF |
--- |
C:±0.15% of rdg±10dg以內(nèi) |
--- |
1V±5% 0.5V±5% |
|
DF:0.01 |
--- |
DF:±0.0005±0.0001×(Cr/Cx)以內(nèi) |
--- |
|||
|
1.5μF |
0.0nF～1500.0nF |
0.1nF |
--- |
C:±0.15% of rdg±10dg以內(nèi) |
C:±0.15% of rdg±10dg以內(nèi) |
1V±5% 0.5V±5% |
|
DF:0.01 |
--- |
DF:±0.0005±0.0001×(Cr/Cx)以內(nèi) |
DF:±0.0005±0.0001×(Cr/Cx)以內(nèi) |
|||
|
15μF |
0.000μF～15.000μF |
0.001μF |
--- |
C:±0.3% of rdg±20dg以內(nèi) |
C:±0.15% of rdg±10dg以內(nèi) |
1V±5% 0.5V±5% |
|
DF:0.01 |
--- |
DF:±0.001±0.0002×(Cr/Cx)以內(nèi) |
DF:±0.001±0.0002×(Cr/Cx)以內(nèi) |
|||
|
150μF |
0.00μF～150.00μF |
0.01μF |
--- |
C:±1% of rdg±50dg以內(nèi) |
C:±0.5% of rdg±25dg以內(nèi) |
1kHz：1V/0.5V＋5%～-20% 120Hz：0.5V±5% |
|
DF:0.01 |
--- |
DF:±0.005±0.0005×(Cr/Cx)以內(nèi) |
DF:±0.003±0.0005×(Cr/Cx)以內(nèi) |
|||
|
1.5mF |
0.0μF～1500.0μF |
0.1μF |
--- |
--- |
C:±1.5% of rdg±50dg以內(nèi) |
120Hz/0.5V＋5%～－25% |
|
DF:0.01 |
--- |
--- |
DF:±0.01±0.001×(Cr/Cx)以內(nèi) |
|||
|
|
測量方式 |
5端子[3端子]測量方式 |
|
測量頻率 |
1MHz/1kHz/120Hz±0.1%、正弦波 |
|
測量信號輸出阻抗 |
約2Ω |
|
寄生電容修正范圍 |
約20pF |
|
溫 度 系 數(shù) |
±100ppm/℃以內(nèi) |
|
測量時間 |
【空轉(zhuǎn)周期】FAST：約1～5次/秒 SLOW：FAST×N(N:平均值設(shè)定次數(shù)) 【啟動觸發(fā)信號】FAST：0.3msec.[1MHz]、1msec.[1kHz]、8.34msec.[120Hz]、 |
|
測量范圍 |
Capacitance：0～15000 DF：0.0000～0.5000 Q：0～10000 |
|
BIN測量 |
C:14分類及Out of bin |
|
周圍使用環(huán)境 |
溫度：0℃～+50℃、 濕度：85%以下 |
|
所需電源 |
AC85V～265V、50～60Hz、約50VA |
|
外形尺寸 |
250(W)×99(H)×300(D)mm（不含底部橡膠等突起部分） |
|
重量 |
約3.5kg |
廣州市番禺區(qū)東環(huán)街番禺大道北537號番禺節(jié)能科技園內(nèi)番山創(chuàng)業(yè)中心1號樓3區(qū)703號之二
020-34781075
臺北 綜元股份有限公司
臺灣新北市三重區(qū)重新路五段609巷20號8樓之一
+886-229992441
高雄 嘉舜實業(yè)有限公司
臺灣高雄市813左營區(qū)光興街175號二樓之一
+886-75589822